光學測量儀器_第(10)頁-筱曉（上海）光子技術有限公司

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光學測量儀器

相機線寬測量儀光度儀/反射計偏振分析儀/旋光儀顯微OCT掃頻測振/磁光克爾探測卡/感應卡觀察儀/觀察鏡波前分析儀/波前傳感器示波器精密定位/光學平臺功率計自準直儀光譜分析儀脈寬測量(相關儀等) 光束/光斑質量分析儀干涉儀/標準具波長計相機/鏡頭/機器視覺

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超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm)

超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探測和參數分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。

更新時間：2025-06-04

產品型號：BAB1G

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BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用連續激光的光束分析激光和激光系統的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄使用 M2DU 平臺測量 M²

更新時間：2024-12-09

產品型號：

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FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭可調光通比 C-mount接口)（觀察儀）

FS70-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1X管鏡頭可調光通比 C-mount接口)（觀察儀）應用：切割、修整、校正、給半導體電路做標記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。

更新時間：2024-12-09

產品型號：

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CUBE-ER100偏振消光比測試儀

CUBE-ER100偏振消光比測試儀總覽 CUBE-ER100是一款基于旋轉偏振器的偏振消光比（PER）測量儀，適用于光纖和自由空間光學應用。由于其緊湊的尺寸和高達每秒50點的快速測量速度，它可以很容易地集成到保偏光纖自動對準系統中。

更新時間：2024-12-09

產品型號：

瀏覽量：1375
FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）

FS70Z-TH 用于半導體檢測顯微鏡 (1x-2x管鏡頭 C-mount) （觀察儀）應用：切割、修整、校正、給半導體電路做標記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。 ? 可用于紅外光學系統*。

更新時間：2024-12-09

產品型號：

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