光譜分析儀-產品百科

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WinCamD-IR-BB 中遠紅外光束質量分析儀 2-16um 7.5Hz

WinCamD-IR-BB 中遠紅外光束質量分析儀 2-16um 7.5Hz 中遠紅外光束質量分析儀基于相機的光束分析系統是使用極廣泛的，它無法獲得最高分辨率，但是對于低重復頻率脈沖激光、非高斯形狀光束或者一般用途的光束分析應用，相機型光束分析儀是很好的選擇。此外，Dataray光束質量分析儀通用的C/F-Mount接口設計，使外加衰減片、擴束鏡、紫外轉換裝置、紅外轉換裝置更為方便。

更新時間：2025-01-14

產品型號：MP-S-WCD-IR-BB-7.5

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超寬中紅外光束質量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm)

超寬中紅外光束質量分析儀(不帶M2測試，光敏面：15.3×12.2mm) 產品描述：筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探測和參數分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。

更新時間：2024-12-09

產品型號：

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超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm)

超寬中紅外光束質量分析儀(帶M2測試，光敏面：10.8×8.7mm) 筱曉光子的紅外光束質量分析儀，可以實現1.2-15μm范圍內的光斑探測和參數分析，空間分析精度可達10μm量級，具有超感光范圍、超大靶面、超高分辨率、多功能軟件等特點。

更新時間：2025-06-04

產品型號：BAB1G

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BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

BladeCam2-HR CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用連續激光的光束分析激光和激光系統的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄使用 M2DU 平臺測量 M²

更新時間：2024-12-09

產品型號：

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BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產品應用連續激光的光束分析激光和激光系統的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄使用 M2DU 平臺測量 M²

更新時間：2024-12-09

產品型號：

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