光譜分析儀-產品百科

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Beam On WSR UV-NIR 光斑分析儀 190-1600nm (最大幀速25Hz)

Beam On WSR UV-NIR 光斑分析儀 190-1600nm (最大幀速25Hz) 產品總覽 BeamOn WSR是寬光譜范圍的CCD型激光光斑分析儀，CCD面積6.47x4.83mm（752x582）響應光譜范圍190~1600nm。

更新時間：2025-01-16

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1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm

1um高分辨率光束質量分析儀 350-1310nm 產品應用激光光束分析：輪廓，光束尺寸，位置，功率激光光束質量分析多波長激光準直

更新時間：2024-12-08

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BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm)

BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm) 產品總覽 BeamOn 是光束診斷測量系統，用于實時測量連續或脈沖激光光束，可測量激光光束參數，包括強度輪廓、光束寬度、形狀、位置、功率。軟件還具有報告功能，用于光束分析設置和給出結果。

更新時間：2025-01-16

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S-WCD-QD-1550-L 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀 400-1700nm

S-WCD-QD-1550-L 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀 400-1700nm 產品總覽量子點短波紅外相機型光束質量分析儀，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子點傳感器，對1550nm或2000nm處進行優化，多種有效面積可供選擇，最高可至1920 x 1080，15×15 μm像素點，14位A/D轉換，是連續和脈沖短波紅外激光光束分析的理想工具。

更新時間：2025-01-16

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BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm

BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm 產品應用連續激光的光束分析激光和激光系統的現場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄使用 M2DU 平臺測量 M²

更新時間：2024-12-08

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