顯微OCT掃頻測振/磁光克爾_第(2)頁-筱曉（上海）光子技術有限公司

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熱輔助磁記錄介質的非接觸HAM/RTAMR評估系統( 顯微鏡/測振/磁光克爾)

熱輔助磁記錄介質的非接觸HAM/RTAMR評估系統( 顯微鏡/測振/磁光克爾) 產品總覽產生磁場±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質（HAMR或TAMR）非接觸評估系統。

更新時間：2025-02-25

產品型號：BH-802HM

瀏覽量：1566
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT

極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計量學無損亞納米級次表面成像) （顯微OCT掃頻測振）產品總覽三維無損成像技術在材料科學和醫學等許多應用領域都非常重要。我們開發了一種成像技術，利用極紫外和軟x射線輻射來獲得納米分辨率的橫截面圖像。例如，我們能夠無損地研究硅片或生物樣品中的近表面結構。

更新時間：2024-12-08

產品型號：

瀏覽量：1831
軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（顯微鏡/測振/磁光克爾）

軟磁層評價系統 BH-618HS-P20（顯微鏡/測振/磁光克爾）產品總覽軟磁層的非接觸式評估系統，例如具有映射和傾斜角測量功能的硬盤介質中的 SUL。

更新時間：2025-02-25

產品型號：BH-618HS-P20-780

瀏覽量：1502
垂直磁記錄介質評價體系 BH-810CPC（顯微鏡/測振/磁光克爾）

垂直磁記錄介質評價體系 BH-810CPC（顯微鏡/測振/磁光克爾）產品總覽具有映射評估功能的硬盤垂直記錄介質（PMR）非接觸評估系統。

更新時間：2025-02-25

產品型號：

瀏覽量：1466
克爾環路測量和域觀測系統 BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克）

克爾環路測量和域觀測系統 BH-1071（顯微OCT掃頻測振/磁光克）用于動態（實時）磁疇觀測和顯微克爾環測量的組合系統。

更新時間：2025-02-25

產品型號：BH-1071-650

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